特許
J-GLOBAL ID：200903064683496433
微粒子分級装置及び微粒子計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-208154
公開番号（公開出願番号）：特開2006-122890
出願日： 2005年07月19日
公開日（公表日）： 2006年05月18日
要約：
【課題】 荷電粒子の電気移動度の粒径依存性を利用して粒子の分級や粒径計測を行う装置において、1台の装置で、狭い粒径バンド幅を設定した精密な粒径分布の測定と、広い粒径バンド幅を設定した粒径の時間変化の測定とを行えるようにする。 【解決手段】 荷電粒子を選択的に取り出すための出口スリット13において、遮蔽板21のスライド位置によって粒径の相違する荷電粒子が分離されるシースガスの流れ方向の開口幅を調節可能とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
略一定流量で以てキャリアガスを流すガス送給手段と、そのガス流に様々な粒径を有する荷電粒子を投入する粒子投入手段と、その荷電粒子が前記ガス流を横切る方向に該荷電粒子を誘引する又は反発する静電場を形成するための電場形成手段と、前記荷電粒子がガス流を横切って到達し得る位置に配設された出口スリットと、を具備し、前記ガス流中に投入された荷電粒子が該ガス流を横切る際にその抵抗に応じてガス流の流れの方向に沿って粒径毎に異なる位置に荷電粒子を到達させ、前記出口スリットの開口位置に到達した荷電粒子のみを選択的に取り出すようにした微粒子分級装置において、
前記ガス流の流れの方向に沿った前記出口スリットの開口幅を調節するための調節手段を備えることを特徴とする微粒子分級装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (5件)：
4D054GA02
, 4D054GA10
, 4D054GB06
, 4D054GB08
, 4D054GB09
