特許

J-GLOBAL ID：200903064815221684

電子機器の温度試験方法

発明者： 若松 博人
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (2件)： 作田 康夫 ,  井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-255056
公開番号（公開出願番号）：特開2006-071444
出願日： 2004年09月02日
公開日（公表日）： 2006年03月16日
要約：

【課題】 専用の設備を必要とせず、あらゆる設置場所でも温度試験を可能とする電子機器の温度試験方法を提供する。【解決手段】 温度試験の対象となる電子機器内のデバイスの温度をジャンクション温度まで高めるため、予め作成しておいた温度制御テーブルから、冷却ファンの回転数を算出し(処理504)、算出した回転数で冷却ファンが回転するように制御する(処理505)。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

電子機器内のデバイスの温度試験方法において、 予め前記デバイスに任意のプログラムを実行させ、前記電子機器内の冷却ファンの回転数を変えながら前記デバイスのジャンクション温度と前記電子機器の排気温度を測定し、前記測定結果から温度制御テーブルを作成し、前記電子機器が任意の場所に設置された後、前記電子機器の入気温度と排気温度を測定し、前記測定結果と前記温度制御テーブルに設定された値から前記冷却ファンを回転させる際の回転数を求め、前記冷却ファンの回転数を前記求めた回転数に制御し、前記デバイスに任意のプログラムを任意の時間、実行させ、入気温度と排気温度の測定、回転数の算出、冷却ファンの回転数の制御を繰り返すことを特徴とする温度試験方法。

IPC (3件)：

G01R 31/317 ,  G01R 31/26 ,  G01R 31/30

FI (3件)：

G01R31/28 A ,  G01R31/26 H ,  G01R31/30

Fターム (13件)：

2G003AA02 ,  2G003AA07 ,  2G003AB16 ,  2G003AC01 ,  2G003AC03 ,  2G003AD06 ,  2G003AH07 ,  2G132AA00 ,  2G132AB04 ,  2G132AB14 ,  2G132AL00 ,  2G132AL11 ,  2G132AL21

引用特許：

出願人引用 (1件)

• ジャンクショントランジスタの熱特性測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-270503   出願人：日本電気株式会社