特許
J-GLOBAL ID：200903064923406992
回路基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-174149
公開番号（公開出願番号）：特開2009-014392
出願日： 2007年07月02日
公開日（公表日）： 2009年01月22日
要約：
【課題】検査時間を短縮し得る回路基板検査装置を提供する。【解決手段】検査用信号S1を生成して回路基板10の一対の配線パターン11a,11bに印加する信号生成部、および検査用信号S1の印加によって配線パターン11a,11bに流れる電流I1の過渡応答信号波形を電流波形データDiとして検出する電流波形検出部を有する測定部5と、回路基板10が正常なときの過渡応答信号波形の前期波形についての許容範囲データDrを記憶するRAM7と、電流波形検出部によって検出された前期波形の電流波形データDiと許容範囲データDrとを比較して回路基板10の良否を判別する制御部6とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査用信号を生成して回路基板に印加する信号生成部と、
前記検査用信号の印加によって前記回路基板に流れる電流信号の過渡応答信号波形を電流波形データとして検出する電流波形検出部と、
前記回路基板が正常なときの前記過渡応答信号波形の前期波形についての許容範囲データを記憶する記憶部と、
前記電流波形検出部によって検出された前記前期波形の前記電流波形データと前記許容範囲データとを比較して前記回路基板の良否を判別する判別部とを備えている回路基板検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (4件)：
2G014AA15
, 2G014AA17
, 2G014AB59
, 2G014AC10
