特許

J-GLOBAL ID：200903064962922647

日射計

発明者： 長谷川 壽一 ,  鈴木 皓夫
出願人/特許権者： 英弘精機株式会社
代理人 (5件)： 稲葉 良幸 ,  大賀 眞司 ,  大貫 敏史 ,  江口 昭彦 ,  内藤 和彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-339433
公開番号（公開出願番号）：特開2009-162508
出願日： 2007年12月28日
公開日（公表日）： 2009年07月23日
要約：

【課題】広い波長範囲において良好な計測が可能であり、かつ角度特性も良好な日射計を提供すること。【解決手段】本発明に係る一態様の日射計は、入射光の強度を検出するセンサ(12)と、前記センサに重畳して配置された光拡散板(10)と、前記光拡散板と前記センサとの相互間に配置された光学フィルタ(11)と、を含み、前記センサは、相互に分光感度特性の異なる複数のセルが膜厚方向に積層された多接合型半導体センサである。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

入射光の強度を検出するセンサと、 前記センサに重畳して配置された光拡散板と、 前記光拡散板と前記センサとの相互間に配置された光学フィルタと、 を含み、 前記センサは、相互に分光感度特性の異なる複数のセルが膜厚方向に積層された多接合型半導体センサである、 ことを特徴とする日射計。

IPC (2件)：

G01J 1/02 ,  G01W 1/12

FI (3件)：

G01J1/02 U ,  G01J1/02 B ,  G01W1/12 A

Fターム (12件)：

2G065AA04 ,  2G065AA15 ,  2G065AA17 ,  2G065AA18 ,  2G065AB02 ,  2G065AB03 ,  2G065AB04 ,  2G065AB05 ,  2G065BA02 ,  2G065BB04 ,  2G065BB05 ,  2G065BB26

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 複数の量子型センサーを利用した日射計、当該日射計を用いた日射強度の算出方法、並びに当該算出方法を実行するためのプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-054627   出願人：英弘精機株式会社