特許
J-GLOBAL ID：200903064975744535

記憶装置の故障診断回路

発明者：
安田 昌生

安田 昌生 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 高橋 詔男 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-127772
公開番号（公開出願番号）：特開2000-322330
出願日： 1999年05月07日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：
【要約】【課題】 システムが運用状態にある場合であっても、このシステム上に実装された記憶装置に対する故障診断テストを実施することができ、この記憶装置の故障を早期に発見することのできる記憶装置の故障診断回路を提供すること。【解決手段】 故障診断対象のRAM2がシステムによりアクセスされていないことを条件として、制御回路11の制御の下に、アドレス発生器12により、故障診断用の任意のアドレスを発生する。セレクタ14により故障診断用のアドレスを故障診断対象のRAM2に与え、RAM2からデータを読み出す。このデータはレジスタ15に保持されると共にセレクタ13を介して再びRAM2に書き込まれた後、再び読み出されてレジスタ16に保持される。これらレジスタ15および16にそれぞれ保持されたデータは、比較器17により比較されて不一致の検出が行われ、その結果がレジスタ18に保持される。
請求項（抜粋）：
システム上に実装された記憶装置の故障診断回路であって、故障診断用のアドレスを発生するアドレス発生手段と、前記記憶装置の出力データに基づき故障診断用のデータを発生するデータ発生手段と、前記記憶装置が前記システムによりアクセスされていないことを条件として、前記アドレス発生手段で発生された故障診断用のアドレスに基づき、前記記憶装置から予め記憶されたデータに対応する第1のデータを読み出し、前記データ発生手段で発生された故障診断用のデータを前記記憶装置に書き込み、前記記憶装置から前記故障診断用のデータに対応する第2のデータを読み出し、前記第1のデータと前記第2のデータとを比較してこれらの不一致を検出する不一致検出手段と、を備えたことを特徴とする記憶装置の故障診断回路。
IPC (2件)：
G06F 12/16 330 ,  G06F 12/16 320
FI (2件)：
G06F 12/16 330 C ,  G06F 12/16 320 K
Fターム (6件)：
5B018GA01 ,  5B018HA01 ,  5B018MA01 ,  5B018NA01 ,  5B018QA02 ,  5B018QA04
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • メモリ試験方式
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-352976   出願人：日本電気エンジニアリング株式会社
  • 特開昭59-166880
  • 特開昭59-166880

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