特許
J-GLOBAL ID：200903065123612710
信号測定用プローブ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
上野 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-085779
公開番号（公開出願番号）：特開平11-281675
出願日： 1998年03月31日
公開日（公表日）： 1999年10月15日
要約：
【要約】【課題】 狭接触ピッチの信号測定用プローブ。【解決手段】 本発明による信号測定用プローブの一実施例では、外囲器33の2つの孔に主チップ部材31と副チップ部材32をそれぞれ貫通させて設けたプローブ先端部分30を備えている。副チップ部材は外囲器と導通しており、主チップ部材は絶縁部材36によって外囲器から絶縁されている。副チップ部材は枢軸39を中心に枢動可能に設けられており、枢軸39に関して非対称形状を有しているので、副チップ部材を枢軸回転させることによってその先端部34は円形の軌跡を描く。その軌跡上の任意の点に副チップ先端部34を位置決めすることによって、両チップ部材先端部間の距離(つまりは接触ピッチ)を所望の長さに設定することができる。
請求項（抜粋）：
第1と第2の孔を有する外囲器と、前記外囲器の前記第1の孔に貫通して設けられた第1のチップ部材と、前記外囲器の前記第2の孔に枢動可能に設けられ、その一端が枢軸に対して非対称な形状を有しており、前記第1のチップ部材と電気的に絶縁された第2のチップ部材とを有する先端部分を備えており、前記第2のチップ部材を所望の位置に枢動させることによって、前記第1のチップ部材の先端と前記第2のチップ部材の先端との間の距離が設定されることを特徴とする信号測定用プローブ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 1/073 A
, G01R 31/28 K
