特許
J-GLOBAL ID：200903065206253240

コンティニュアスAFにおけるスキャン方式

発明者：
安立 達生

安立 達生 について


出願人/特許権者：
京セラ株式会社

京セラ株式会社 について


代理人 (1件)： 井ノ口 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-192332
公開番号（公開出願番号）：特開2003-005024
出願日： 2001年06月26日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：
【要約】【課題】 再スキャン判定をしている時の合焦/非合焦の状態に応じて再スキャンを行う条件を変えることにより、CAFモードにおいてレリーズを押した時に素早く撮影でき、かつ消費電力を低減できるコンティニュアスAFにおけるスキャン方式を提供する。【解決手段】 合焦情報を検出した場合には、再スキャン時間T1 と再スキャンしきい値Δ1 を設定し、最大AFデータ位置にレンズを駆動し停止する。そして再スキャン判定を開始する。一方、合焦検出できないでスキャンの反転動作がn回以上行われた場合には、T1 より短い再スキャン時間T2 とΔ1 より小さい再スキャンしきい値Δ2 を設定し、最大AFデータ位置にレンズを駆動した後、今度は再スキャン時間T2 と再スキャンしきい値Δ2 で判定を開始する。
請求項（抜粋）：
カメラのコンティニュアスAFスキャン方式において、合焦情報を検出したか否かを判定する合焦判定手段と、前記合焦検出手段により合焦位置を検出した場合、再スキャン時間T1 およびしきい値Δ1 を設定する再スキャン時間およびしきい値設定手段と、最大AFデータ位置にレンズをもたらすレンズ駆動手段と、前記合焦判定手段により合焦を検出できない状態において、前記スキャンに関する所定の条件を満たしたか否かを判定する条件判定手段と、前記条件判定手段により所定の条件を満たしたと判定された場合、前記再スキャン時間は、前記T1 より短いT2 に、前記しきい値はΔ1 より小さいΔ2 に切り替える再スキャン時間およびしきい値切替手段と、前記設定された再スキャン時間およびしきい値を用いて再スキャン判定を行う手段と、を備えたことを特徴とするコンティニュアスAFにおけるスキャン方式。
IPC (5件)：
G02B 7/28 ,  G02B 7/36 ,  G03B 13/36 ,  H04N 5/232 ,  H04N101:00
FI (5件)：
H04N 5/232 H ,  H04N101:00 ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 D ,  G03B 3/00 A
Fターム (22件)：
2H011AA03 ,  2H011BA31 ,  2H011BB04 ,  2H011CA22 ,  2H011DA01 ,  2H051AA00 ,  2H051BA47 ,  2H051BA66 ,  2H051DA22 ,  2H051DB03 ,  2H051DB08 ,  2H051DB10 ,  2H051DC15 ,  2H051DC18 ,  2H051EA03 ,  2H051EA08 ,  2H051EB13 ,  2H051FA61 ,  5C022AB22 ,  5C022AB67 ,  5C022AC54 ,  5C022AC69
引用特許：
審査官引用 (19件)
  • 特開平3-249715
  • 特開平3-249715
  • 特開平3-284069
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