特許
J-GLOBAL ID:200903065326222356

画像処理方法、画像処理装置、画像形成装置及びコンピュータプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 河野 登夫 ,  河野 英仁
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-181878
公開番号(公開出願番号):特開2006-005806
出願日: 2004年06月18日
公開日(公表日): 2006年01月05日
要約:
【課題】 網点上文字の内部を検出することができる画像処理方法、画像処理装置、画像形成装置及びコンピュータプログラムを提供する。 【解決手段】 本発明の画像処理装置が備える領域分離処理部(領域識別手段)5内の網点判定部32は、注目画素が網点領域に含まれるか否かを判定する。また低周波エッジ検出部34は、各画素に対して低周波エッジの有無を判定し、低周波エッジ判定結果補正部36は、注目画素とその近傍の画素とからなる領域の中に低周波エッジを有する画素が多い場合に、注目画素が低周波エッジを有していると最終的に判定する。更に判定部38は、画素が網点領域に含まれておりしかも低周波エッジを有している場合に、この画素は網点上文字領域に含まれていると判定する。低周波エッジを有する画素が集中している部分を検出できるので、網点上文字の内部を検出することが可能となる。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
複数の画素からなる画像を構成する複数の領域を、画像を網点で表現した網点領域と網点領域内に文字が存在する網点上文字領域とを含む複数の種類に識別し、画像を構成する各領域に対して夫々の種類に応じた画像処理を行う画像処理方法において、 前記画像に含まれる任意の画素が前記網点領域に含まれているか否かを判定する網点判定ステップと、 任意の画素及び該任意の画素周辺の所定範囲内に位置する複数の画素それぞれの画像信号強度を示す画素値に基づいて、前記任意の画素における所定の空間周波数以下の低周波エッジを検出する低周波エッジ検出ステップと、 検出された低周波エッジの強度を所定の閾値と比較した比較結果に応じて、前記任意の画素における低周波エッジの有無を示す判定情報を生成する低周波エッジ判定ステップと、 任意の画素及び該任意の画素近傍の所定範囲内に位置する複数の画素それぞれの判定情報に含まれる低周波エッジが有であることを示す判定情報の数に応じて、前記任意の画素における低周波エッジの有無を判定する低周波エッジ判定補正ステップと、 前記網点判定ステップにより任意の画素が前記網点領域に含まれていると判定され、かつ前記低周波エッジ判定補正ステップにより前記任意の画素において低周波エッジが存在すると判定された場合に、前記網点上文字領域に前記任意の画素が含まれていると判定するステップと を含むことを特徴とする画像処理方法。
IPC (2件):
H04N 1/40 ,  G06T 5/20
FI (2件):
H04N1/40 F ,  G06T5/20 A
Fターム (34件):
5B057AA11 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE02 ,  5B057CE03 ,  5B057CE05 ,  5B057CE06 ,  5B057CE17 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5C077MM03 ,  5C077MP02 ,  5C077MP08 ,  5C077PP03 ,  5C077PP27 ,  5C077PP28 ,  5C077PP31 ,  5C077PP32 ,  5C077PP33 ,  5C077PP47 ,  5C077PP48 ,  5C077PQ08 ,  5C077PQ20 ,  5C077TT06
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)
  • 特開平2-274173
  • 画像処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-204627   出願人:株式会社リコー
  • 画像処理方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-084185   出願人:株式会社リコー

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