特許

J-GLOBAL ID：200903065371462007

積層板の検査装置及び検査方法

発明者： 石黒 宏幸
出願人/特許権者： パナソニック電工株式会社
代理人 (2件)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-306597
公開番号（公開出願番号）：特開2009-128323
出願日： 2007年11月27日
公開日（公表日）： 2009年06月11日
要約：

【課題】積層板の色調を問わず、目視によらないでボイドや金属異物の有無を自動的に検査することができる積層板の検査装置を提供する。【解決手段】積層板の検査装置に関する。積層板1にX線を照射するX線発生部2と、受光X線量に応じた濃淡値を持つ原画像を得る撮像部3と、原画像を平滑化処理して平滑化画像を得ると共に、原画像と平滑化画像との間で画素単位で差分を取る減算処理を行って差分画像を得た後、この差分画像を2値化処理して2値化画像を得る画像処理部4と、この2値化画像を基に積層板1中の欠陥6の有無を判定する判定部5と、を具備する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

積層板にX線を照射するX線発生部と、受光X線量に応じた濃淡値を持つ原画像を得る撮像部と、原画像を平滑化処理して平滑化画像を得ると共に、原画像と平滑化画像との間で画素単位で差分を取る減算処理を行って差分画像を得た後、この差分画像を2値化処理して2値化画像を得る画像処理部と、この2値化画像を基に積層板中の欠陥の有無を判定する判定部と、を具備して成ることを特徴とする積層板の検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G01N23/04 ,  G06T1/00 300

Fターム (33件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001HA07 ,  2G001JA07 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001KA04 ,  2G001KA05 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001QA01 ,  5B057AA03 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE05 ,  5B057CF01 ,  5B057CF02 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC32

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線検査方法及びX線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-266519   出願人：松下電器産業株式会社

審査官引用 (3件)

• 選択性の高い画像処理による高感度な異物検出装置
  公報種別：再公表公報   出願番号：JP1996003778   出願人：アンリツ株式会社
• 特開平2-266248
  
• X線検査装置およびX線検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-202177   出願人：株式会社日立国際電気