特許
J-GLOBAL ID：200903065494553511

計測内視鏡装置

発明者：
横田 政義

横田 政義 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-264848
公開番号（公開出願番号）：特開2003-070719
出願日： 2001年08月31日
公開日（公表日）： 2003年03月11日
要約：
【要約】【課題】 本装置で計測を行なう場合に表示する計測線を幾何学的歪みを考慮して幾何学的歪みを補正していない元画像上に表示するようにすることで、補正画像を表示する機能は設けずに、比較的簡単な処理で、検査者が計測した位置と長さを正しく認識しやすくする。【解決手段】 コントロールユニット12内に搭載された主要回路群は、主要プログラムに基づき各種機能を実行し動作させるように制御を行うCPU26,ROM27,RAM28,PCカードI/F30,USBI/F31,RS-232CI/F29,音声信号処理回路32及び映像信号処理回路33とを含んで構成される。
請求項（抜粋）：
内視鏡先端部に設けられた接続部と、前記接続部に着脱可能な被写体像を撮像素子に結合させる複数種類の光学アダプタと、前記光学アダプタの一つを接続し、前記撮像素子の画像信号を画像処理によって計測を行なう処理と、前記複数の光学アダプタを用いて計測環境の設定を行なうことで作成された計測環境データを複数保存および管理できる手段と、前記複数の計測環境データを表示する手段と、前記表示手段から計測環境データを選択して計測処理を行なう手段と、脱着自在な記録媒体に計測画像を記録する手段と、既に記録媒体に記録されている計測画像を選択して計測処理を実行させることができる手段と、光学アダプタの光学特性や被写体を撮影したときに使用した機器の種類などを示す情報を計測画像に記録する手段とを具備している計測内視鏡において、計測を行うときに表示される計側線が光学特性による幾何学的歪みを補正した状態で計測画像上に表示される手段を備えたことを特徴とする計測内視鏡装置。
IPC (5件)：
A61B 1/00 300 ,  A61B 1/00 ,  A61B 1/04 372 ,  G02B 23/24 ,  G02B 23/26
FI (6件)：
A61B 1/00 300 D ,  A61B 1/00 300 Y ,  A61B 1/04 372 ,  G02B 23/24 B ,  G02B 23/26 C ,  G02B 23/26 D
Fターム (10件)：
2H040GA02 ,  2H040GA06 ,  2H040GA11 ,  4C061CC06 ,  4C061FF40 ,  4C061HH51 ,  4C061JJ17 ,  4C061SS21 ,  4C061TT12 ,  4C061WW12
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM