誘導結合プラズマ質量分析装置及びその方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：林敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-003361
公開番号（公開出願番号）：特開平9-199076
出願日： 1996年01月11日
公開日（公表日）： 1997年07月31日
要約：

【要約】【課題】定量分析する際に、内標準法や標準添加法により定量測定するが、それぞれ内標準試料や分析試料を一定にして、測定元素の添加量を変えて数回測定しなければならない。それぞれの試料溶液を準備しなければならない。【解決する手段】霧化された試料を分級し、トーチ部に試料を供給するチャンバに、2つの霧化器を備え、一方の霧化器にて一定の溶液を霧化し、他方の霧化器にて、濃度を変えて測定刷る必要の或る溶液を霧化する。

請求項（抜粋）：

誘導結合プラズマを発生するトーチ部に試料導入路となるチャンバを接続して、霧化された試料を前記トーチ部に供給する誘導結合プラズマ質量分析装置において、前記チャンバの内管に向けて2本以上の噴霧器で霧を噴霧する事を特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置。

IPC (2件)：

H01J 49/04 , G01N 27/62

FI (2件)：

H01J 49/04 , G01N 27/62 G

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平1-158334
特開昭64-006353
誘導結合プラズマ質量分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-242084 出願人：セイコー電子工業株式会社

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