特許

J-GLOBAL ID：200903065837590868

微粒子成分分析装置

発明者： 山崎 弘郎 ,  高原 寿雄 ,  片倉 久雄
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 渡辺 正康 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-000328
公開番号（公開出願番号）：特開平8-184566
出願日： 1995年01月05日
公開日（公表日）： 1996年07月16日
要約：

【要約】【目的】 測定時間の短縮化をはかるとともに装置の小型化,低価格化をはかった微粒子成分分析装置を提供する。【構成】 微粒子をマイクロ波を利用して原子化・イオン化して励起・発光させ,発光した光をフーリエ変換手段を用いて解析することにより,前記微粒子の成分及び大きさを検知するように構成した。

請求項（抜粋）：

微粒子をマイクロ波を利用して原子化・イオン化して励起・発光させ,発光した光をフーリエ変換手段を用いて解析することにより,前記微粒子の成分及び大きさを検知するように構成したことを特徴とする微粒子成分分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/73 ,  G01N 15/10

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 微粒子成分分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-289038   出願人：横河電機株式会社
• 特開昭62-249020
  
• 特開平4-351952
  
• 特開平3-249551