分光分析装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：北村修一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-294374
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098636
出願日： 2000年09月27日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：

【要約】【課題】透過率が大きく異なるような種々の被計測物を計測対象とする場合であっても、分光スペクトルデータを極力、精度よく検出して、被計測物の内部品質の解析をすることが可能となる分光分析装置を提供する。【解決手段】被計測物に光を照射する投光手段1と、被計測物の透過光を分光してその分光した光の分光スペクトルデータを計測する受光手段2と、その分光スペクトルデータに基づいて被計測物の内部品質を解析する演算手段3とを備えて構成され、受光手段2は、受光感度が異なる複数の受光状態で前記分光スペクトルデータを計測可能に構成され、演算手段3は、複数の受光状態のうち前記被計測物の内部品質を解析するのに適正な分光スペクトルデータを計測する受光状態を選択して、その選択した受光状態における分光スペクトルデータに基づいて前記被計測物の内部品質を解析する。

請求項（抜粋）：

被計測物に光を照射する投光手段と、前記被計測物の透過光又は反射光を分光してその分光した光の分光スペクトルデータを計測する受光手段と、その分光スペクトルデータに基づいて前記被計測物の内部品質を解析する演算手段とを備えて構成されている分光分析装置であって、前記受光手段は、受光感度が異なる複数の受光状態で前記分光スペクトルデータを計測可能に構成され、前記演算手段は、前記複数の受光状態のうち前記被計測物の内部品質を解析するのに適正な分光スペクトルデータを計測する受光状態を選択して、その選択した受光状態における分光スペクトルデータに基づいて前記被計測物の内部品質を解析するように構成されている分光分析装置。

IPC (4件)：

G01N 21/35 , G01J 3/28 , G01J 3/42 , G01N 21/85

FI (4件)：

G01N 21/35 Z , G01J 3/28 , G01J 3/42 U , G01N 21/85 A

Fターム (52件)：

2G020AA03 , 2G020BA03 , 2G020BA20 , 2G020CA02 , 2G020CB04 , 2G020CB26 , 2G020CC05 , 2G020CC31 , 2G020CC47 , 2G020CC48 , 2G020CC63 , 2G020CD04 , 2G020CD12 , 2G020CD13 , 2G020CD24 , 2G020CD32 , 2G020CD33 , 2G020CD37 , 2G020CD41 , 2G020CD57 , 2G051AA05 , 2G051AB06 , 2G051BA06 , 2G051CA03 , 2G051CA07 , 2G051CB01 , 2G051CB02 , 2G051CC07 , 2G051CC15 , 2G051DA01 , 2G051DA06 , 2G059AA01 , 2G059BB11 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059FF08 , 2G059HH01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ23 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2G059MM03 , 2G059MM09 , 2G059MM18 , 2G059NN08 , 2G059PP01

引用特許：

審査官引用 (6件)

光学的測定方法及びその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-041944 出願人：財団法人雑賀技術研究所
特開平4-223230
特開昭63-032354

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