パターン認識方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：後藤洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-184352
公開番号（公開出願番号）：特開平9-134432
出願日： 1996年07月15日
公開日（公表日）： 1997年05月20日
要約：

【要約】観察データを充分に説明する正規濃度の組み合わせから出発する未管理のメトリック認識学習を用いた顔認識の方法を提供する。照会対象に対応する最も近い参照データベースを選択するための改良された判定規則を提供する。

請求項（抜粋）：

トレーニングデータの統計モデルとの間のメトリック(差)を推定し、上記メトリックを用いて入力された照会対照を分類することを特徴とするパターン認識方法。

FI (2件)：

G06F 15/62 465 K , G06F 15/70 465 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

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