特許
J-GLOBAL ID：200903066101028530

X線異物検出装置

発明者：
渡部 俊寿

渡部 俊寿 について


出願人/特許権者：
アンリツ産機システム株式会社

アンリツ産機システム株式会社 について


代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-165627
公開番号（公開出願番号）：特開2007-333562
出願日： 2006年06月15日
公開日（公表日）： 2007年12月27日
要約：
【課題】判定閾値をより精度の高い値に自動的に更新することにより、食品等に混入した異物の有無を、高精度で効率よく合否判定することができ、誤判定が生じないX線異物検出装置を提供する。【解決手段】搬送路上を搬送される被検査物にX線を曝射し透過したX線の強度に対応したX線強度信号を出力するX線強度信号出力手段と、X線強度信号出力手段から出力されるX線強度信号から濃度データを生成する濃度データ生成手段と、濃度データ生成手段により生成された濃度データと閾値とを比較して被検査物の合否を判定する合否判定手段とを有するX線異物検出装置において、合否判定手段に用いられた所定個数の濃度データに基づいて濃度データの統計値を算出する統計値算出手段と、初期設定した初期閾値を越えない範囲内で統計値算出手段により算出した統計値に基づいて閾値を更新する閾値更新手段とを備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
搬送路上を搬送される被検査物にX線を曝射し透過したX線の強度に対応したX線強度信号を出力するX線強度信号出力手段と、該X線強度信号出力手段から出力されるX線強度信号から濃度データを生成する濃度データ生成手段と、該濃度データ生成手段により生成された前記濃度データと閾値とを比較して前記被検査物の合否を判定する合否判定手段とを有するX線異物検出装置において、 前記合否判定手段に用いられた所定個数の前記濃度データに基づいて前記濃度データの統計値を算出する統計値算出手段と、 初期設定した初期閾値を越えない範囲内で前記統計値算出手段により算出した統計値に基づいて前記閾値を更新する閾値更新手段と、 を有することを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (1件)：
G01N 23/04
FI (1件)：
G01N23/04
Fターム (13件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001GA06 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001PA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • X線異物検出装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-183118   出願人：アンリツ産機システム株式会社

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