特許

J-GLOBAL ID：200903037111417292

X線異物検出装置

発明者： 関 隆行 ,  鈴木 貴志
出願人/特許権者： アンリツ産機システム株式会社
代理人 (1件)： 西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-183118
公開番号（公開出願番号）：特開2004-028685
出願日： 2002年06月24日
公開日（公表日）： 2004年01月29日
要約：

【課題】被検査物の各品種毎の傾向やバラツキが一目で把握でき、適正な検出リミット値に容易に調整できる。【解決手段】被検査物WにX線を曝射し、このX線の曝射に伴って被検査物を透過してくるX線の透過量に基づいて被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器5の表示画面に表示するX線異物検出装置であり、表示器5の表示画面に対し、検査された被検査物毎のX線透過データの最大値又は平均値、製品面積、製品体積のいずれかによる製品影響を示すデータを被検査物の検査経過とともに検査の古い方から順番にトレンド表示する。【選択図】 図4

請求項（抜粋）：

被検査物(W)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量に基づいて前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器(5)の表示画面に表示するX線異物検出装置(1)において、 前記表示器の表示画面に対し、検査された前記被検査物毎のX線透過データの最大値又は平均値、製品面積、製品体積による製品影響を示すデータを選択的に前記被検査物の検査経過とともに検査の古い方から順番にトレンド表示する処理手段(14)を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。

IPC (1件)：

G01N23/04

FI (1件)：

G01N23/04

Fターム (13件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA04 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11

引用特許：

審査官引用 (7件)

• X線異物検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-332885   出願人：アンリツ株式会社
• 履歴フアイルによる制御状況処理方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-292947   出願人：日本電気コンピユータシステム株式会社
• PTPシート外観検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-091329   出願人：東芝エンジニアリング株式会社
• 半導体不良解析システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-057669   出願人：株式会社東芝
• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-335214   出願人：株式会社イシダ, 株式会社東研
• 壜外観検査システムおよびその方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-339501   出願人：松下電工株式会社, アサヒビール株式会社
• 穀粒選別機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-271556   出願人：株式会社山本製作所

引用文献：

審査官引用 (2件)

• 目視検査の自動化技術-ネオマシンビジョン アプリケーション-, 19950106, p.25-26
• 目視検査の自動化技術-ネオマシンビジョン アプリケーション-, 19950106, p.25-26