特許

J-GLOBAL ID：200903066360194147

応力測定システム

発明者： 徐 超男 ,  今井 祐介
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
代理人 (2件)： 白崎 真二 ,  阿部 綽勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-105328
公開番号（公開出願番号）：特開2006-284393
出願日： 2005年03月31日
公開日（公表日）： 2006年10月19日
要約：

【課題】 本発明目的は、被測定物の三次元形状をも考慮して被測定物表面の応力分布を正確に算出することができる応力測定システムを提供すること。【解決手段】 被測定物 2,2Aに付与された応力発光物質1,1Aの発光強度を検出し、且つ被測定物の形状を撮像するための複数台の撮像装置と、該複数の撮像装置により撮像された情報に基づき前記被測定物の三次元形状を算出し、該三次元形状により前記発光強度を補正して応力分布を決定する画像処理装置4と、を有する応力測定システム。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被測定物に付与された応力発光物質の発光強度を検出し、且つ被測定物の形状を撮像するための複数台の撮像装置と、 該複数の撮像装置により撮像された情報に基づき前記被測定物の三次元形状を算出し、該三次元形状により前記発光強度を補正して応力分布を決定する画像処理装置と、 を有することを特徴とする応力測定システム。

IPC (3件)：

G01L 1/24 ,  G01L 1/00 ,  G01B 11/24

FI (4件)：

G01L1/24 ,  G01L1/00 E ,  G01B11/24 A ,  G01B11/24 K

Fターム (6件)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特公昭62-1204号公報
  
• 応力発光材料を用いた応力または応力分布の測定方法と測定システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-024974   出願人：経済産業省産業技術総合研究所長, 徐超男, 野中一洋