特許

J-GLOBAL ID：200903066466568038

テスト仕様書作成装置およびそのプログラムを格納した記憶媒体

発明者： 榎戸 重則 ,  川端 功微 ,  阿久田 博美
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 服部 毅巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-344285
公開番号（公開出願番号）：特開平11-282666
出願日： 1998年12月03日
公開日（公表日）： 1999年10月15日
要約：

【要約】【課題】 テスト仕様書作成装置に関し、設計工程でエントリした設計情報リポジトリを利用し、テスト工程での作業効率を向上させることを目的とする。【解決手段】 データ解析手段4はテスト構成記憶手段1のテスト構成ファイルに記述された文を1行ずつ読み込み、その行が固定出力行かプログラム出力行かを判断する。テスト事項判断手段5は、プログラム出力行から設計情報記憶手段9の設計テーブルにある設計情報のみでテスト事項を生成できるか、標準テスト事項記憶手段3の標準テスト事項ファイルの情報をも必要とするかを判断する。第1テスト事項生成手段6は、設計情報読み込み手段2により取得した各設計テーブルからテスト事項を生成し、第2テスト事項生成手段7は、各設計テーブルと標準テスト事項ファイルとからテスト事項を生成する。テスト仕様書書き出し手段8は、固定出力行、生成したテスト事項出力してテスト仕様書10を作成する。

請求項（抜粋）：

設計情報を元にテスト仕様書を作成するテスト仕様書作成装置において、テスト仕様書の基本的な構成を記述したテスト構成ファイルを記憶するテスト構成記憶手段と、設計工程で作成された設計情報を読み込む設計情報読み込み手段と、前記テスト構成ファイルに記述された文を行単位で読み込んでその文は固定出力行かプログラム出力行かを解析するデータ解析手段と、入力行がデータ解析手段によりプログラム出力行と判断された場合に前記設計情報読み込み手段にて読み込んだ設計情報を元にテスト事項を生成する第1テスト事項生成手段と、データ解析手段で解析された固定出力行および第1テスト事項生成手段で生成されたテスト事項を出力するテスト仕様書書き出し手段と、から構成されていることを特徴とするテスト仕様書作成装置。

IPC (2件)：

G06F 9/06 540 ,  G06F 11/28 340

FI (2件)：

G06F 9/06 540 U ,  G06F 11/28 340 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-091039
  
• システムテスト仕様生成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-192585   出願人：松下電器産業株式会社
• 特開平4-199423