特許
J-GLOBAL ID：200903066467186570
蛍光X線分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉本 修司
, 野田 雅士
, 堤 健郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-344934
公開番号（公開出願番号）：特開2004-177302
出願日： 2002年11月28日
公開日（公表日）： 2004年06月24日
要約：
【課題】パルスモータの回転を位置制御用ICで制御する蛍光X線分析装置において、装置の簡素化、コストダウンを図れるものを提供する。【解決手段】パルスモータ2を駆動源とする可動機構1を複数備え、パルスモータ2の回転を位置制御用IC4で制御することにより、試料14に1次X線13を照射して発生する2次X線15の強度を測定する蛍光X線分析装置において、位置制御用IC4をパルスモータ2に動的に割り当てる制御手段5を備えることにより、位置制御用IC4の数をパルスモータ2の数よりも少なくする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
パルスモータを駆動源とする可動機構を複数備え、前記パルスモータの回転を位置制御用ICで制御することにより、試料に1次X線を照射して発生する2次X線の強度を測定する蛍光X線分析装置において、
前記位置制御用ICをパルスモータに動的に割り当てる制御手段を備えることにより、前記位置制御用ICの数をパルスモータの数よりも少なくしたことを特徴とする蛍光X線分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001CA01
, 2G001EA01
, 2G001EA06
, 2G001GA04
, 2G001JA01
, 2G001JA04
, 2G001JA06
, 2G001SA02
審査官引用 (1件)
-
螢光X線検査装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-175004
出願人：オックスフォードアナリティカルインストルメンツリミテッド
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