特許
J-GLOBAL ID：200903066541565481

解析モデル作成方法、CADシステム、及び解析モデル作成プログラム

発明者：
清水 暁央

清水 暁央 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (6件)： 波多野 久 ,  関口 俊三 ,  猿渡 章雄 ,  古川 潤一 ,  河村 修 ,  山田 毅彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-322054
公開番号（公開出願番号）：特開2008-134943
出願日： 2006年11月29日
公開日（公表日）： 2008年06月12日
要約：
【課題】有限要素法を用いたシミュレーションの解析モデルに必要となる接触面の定義を効率良くかつ正確に行うことができる解析モデル作成方法を提供する。【解決手段】本発明に係る解析モデル作成方法は、有限要素法による解析のための解析モデル作成方法において、個々の部品の3次元モデルである部品モデルに対して、他の部品と接触する面に予め接触面の定義を行い、接触面の定義が行われた複数の部品モデルを組み合わせて、アセンブルモデルを作成し、アセンブルモデルをメッシュに分割し、アセンブルモデルに対して、部品モデルに定義された接触面と、これと対になる他の部品モデルに定義された接触面とが互いに対応して配置されているか否かを判定する、ステップを備えたことを特徴とする。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
有限要素法による解析のための解析モデル作成方法において、 個々の部品の3次元モデルである部品モデルに対して、他の部品と接触する面に予め接触面の定義を行い、 接触面の定義が行われた複数の前記部品モデルを組み合わせて、アセンブルモデルを作成し、 前記アセンブルモデルをメッシュに分割し、 前記アセンブルモデルに対して、前記部品モデルに定義された接触面と、これと対になる他の部品モデルに定義された接触面とが互いに対応して配置されているか否かを判定する、 ステップを備えたことを特徴とする解析モデル作成方法。
IPC (1件)：
G06F 17/50
FI (4件)：
G06F17/50 612J ,  G06F17/50 628Z ,  G06F17/50 622C ,  G06F17/50 632
Fターム (3件)：
5B046FA05 ,  5B046FA07 ,  5B046JA07
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM