特許

J-GLOBAL ID：200903066660672008

におい測定装置

発明者： 大久保 邦彦 ,  川本 啓三 ,  木下 太生 ,  中野 博司
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-309992
公開番号（公開出願番号）：特開平11-125613
出願日： 1997年10月23日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：

【要約】【課題】 試料ガス中の水分の影響を除き、正確なにおい測定を行なう。【解決手段】 試料ガスを捕集管19に流し、吸着剤に試料成分を充分に吸着させる。次いで、三方バルブ17を切り替えて捕集管19にN2を流し、捕集管19内を略一定湿度まで除湿する。その後、六方バルブ18を切り替え、捕集管19に逆方向からN2を流すとともに捕集管19を加熱し、試料成分をフローセル27に導入し、においセンサ26により検出出力を得る。試料ガスの測定後、三方バルブ16を切り替え、試料ガスに利用した清浄空気を同様の条件で測定する。演算処理部35は、試料ガスの検出出力と清浄空気の検出出力との差分を取り、それに基づきにおい成分の識別処理を行なう。

請求項（抜粋）：

a)導入されるガスを略一定程度まで除湿する除湿手段と、b)該除湿手段により除湿されたガスに含まれる試料成分を検出するにおい検出手段と、c)試料成分を含まないキャリアガスを前記除湿手段を介して前記におい検出手段に供給したときの検出出力と、試料成分を含むキャリアガスを該除湿手段を介してにおい検出手段に供給したときの検出出力との差分に基づいて、においの検出処理を実行する処理手段と、を備えることを特徴とするにおい測定装置。

IPC (3件)：

G01N 27/12 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/28

FI (3件)：

G01N 27/12 A ,  G01N 1/00 101 R ,  G01N 1/28 L

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 臭気・ガス分析測定システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-280411   出願人：株式会社アメニテック
• ガス測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-051694   出願人：横河電機株式会社