特許
J-GLOBAL ID:200903066842104633

自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 堀口 浩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-277230
公開番号(公開出願番号):特開2007-085966
出願日: 2005年09月26日
公開日(公表日): 2007年04月05日
要約:
【課題】 簡易な機構で余計な測光時間をかけることなく測光値の安定性・十分な性能を確保する。【解決手段】 光源101からの光が、途中で2本に分かれた光ファイバー104(二叉の光ファイバー)を介して反応管106に対し2方向(別方向)から光が照射される。反応管106に照射された2方向からの光は、それぞれ被検試料と試薬の混合液を含む反応管106内を透過、もしくは散乱した後、光検出器116によって入射光の光量に応じた電気信号を発生する。この電気信号は信号収集部117で収集された後、信号処理部118で被検試料の算出処理に利用される。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
試料と試薬とを混合して反応させるための反応管と、 一つの光源からの光を少なくとも2つの方向から前記反応管内液に対して照射する照射手段と、 前記反応管内の液中を透過した光を測定する測定手段とを備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (1件):
G01N 35/02
FI (1件):
G01N35/02 A
Fターム (4件):
2G058CC14 ,  2G058GA02 ,  2G058GA06 ,  2G058GA08
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 自動分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-192534   出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ, 株式会社日立サイエンスシステムズ

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