特許
J-GLOBAL ID：200903067093188503
集積回路テストプローブ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
押田 良輝
, 押田 良隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-198685
公開番号（公開出願番号）：特開2004-251884
出願日： 2003年07月17日
公開日（公表日）： 2004年09月09日
要約：
【課題】コイルばねによってバイアスされ、不導性基板のスルーホールに取り付けられた伸長ねじ加工接点より構成されるテストプローブ。【解決手段】接点の一端部はICパッケージのはんだボールリードと係合するためのクラウンを備えており、接点は、スルーホール内に接点を維持する中間カラーを備える。コイルばねは接点のまわりに配設され、その一端部はカラーの下端と係合している。コイルばねの他方の端部は、密着コイルを有し、プリント配線基板と電気的接触をなすために不導性基板の下端を越えて突出するように縮小された直径である。テストプローブがICパッケージとプリント配線基板との間で圧縮されると、コイルばねの固有の捩れが、接点を傾倒させ密着コイルと電気的接触を生じさせ、それによって、最小限の抵抗および最小限のインダクタンスによりICパッケージとプリント配線基板との間に直接的な電気的経路を確立する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
コネクタアセンブリのための電気テストプローブであって、
中間カラーを有する伸長接点と、
前記接点のまわりに配設された伸長螺旋状コイルばねとを含み、
ばねの一端は、ばねの平面がカラーの当該一側面と鋭角であるように前記中間カラーの一側面に接して支持し、ばねの反対端部は密着ばねコイルを備えており、それによって、動作時に電気プローブがプリント配線基板と集積回路との間で圧縮された時に、接点の縦軸が傾斜して接点とばねの密着ばねコイルとの間に直接的な電気的経路を確立することを特徴とする電気テストプローブ。
IPC (6件)：
G01R1/067
, G01R1/073
, G01R31/26
, H01R13/15
, H01R13/24
, H01R33/76
G01R1/067 C
, G01R1/073 B
, G01R31/26 J
, H01R13/15 B
, H01R13/24
, H01R33/76 505A
2G003AA07
, 2G003AD09
, 2G003AG01
, 2G003AG03
, 2G003AG12
, 2G003AH05
, 2G003AH09
, 2G011AA04
, 2G011AA15
, 2G011AB01
, 2G011AB03
, 2G011AB05
, 2G011AC14
, 2G011AC32
, 2G011AC33
, 2G011AE01
, 2G011AE22
, 2G011AF02
, 5E024CA02
, 5E024CA22
