特許

J-GLOBAL ID：200903067119102270

光学装置

発明者： 今井 修
出願人/特許権者： 住友精密工業株式会社
代理人 (2件)： 河野 登夫 ,  河野 英仁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-304392
公開番号（公開出願番号）：特開2006-119198
出願日： 2004年10月19日
公開日（公表日）： 2006年05月11日
要約：

【課題】 光走査機構の構成の小型化を図れるとともに、光反射部材の前面に設けた保護用の光透過部材での反射光が外乱となることを防止できる光学装置を提供する。 【解決手段】 光反射面となるヨーク1dを有するマイクロミラー(第1光学部材)1の前面に、保護用の光透過部材(第2光学部材)2が設けられており、レーザ光源11からのレーザ光が光透過部材2を介してマイクロミラー1で反射され、その反射光は光透過部材2を介して感光体13を走査する。光透過部材2は、マイクロミラー1を保護する機能と光学レンズの機能とを有している。光透過部材2の光学レンズの機能により、光走査機構に設けるべき光学部材の点数を低減できるとともに、レーザ光源11からのレーザ光の光透過部材2における反射光Bは感光体13に照射されず、マイクロミラー1における反射光Cのみが感光体13に照射される。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

入射光を反射する第1光学部材と、該第1光学部材の光入射側に設けられて前記第1光学部材を保護すると共に光学レンズの機能を有する透光性の第2光学部材とを備えることを特徴とする光学装置。

IPC (4件)：

G02B 26/10 ,  H04N 1/036 ,  H04N 1/113 ,  B41J 2/44

FI (4件)：

G02B26/10 104Z ,  H04N1/036 Z ,  H04N1/04 104Z ,  B41J3/00 D

Fターム (27件)：

2C362BA17 ,  2C362BA83 ,  2C362BA86 ,  2C362DA09 ,  2H045AB08 ,  2H045AB73 ,  2H045CB63 ,  2H045DA02 ,  2H045DA41 ,  5C051AA02 ,  5C051CA07 ,  5C051DB02 ,  5C051DB22 ,  5C051DB24 ,  5C051DB30 ,  5C051DC04 ,  5C051DC07 ,  5C051FA01 ,  5C072AA03 ,  5C072BA01 ,  5C072DA02 ,  5C072DA21 ,  5C072HA02 ,  5C072HA09 ,  5C072HA14 ,  5C072WA05 ,  5C072XA01

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 微小揺動ミラー素子及びこれを用いたレーザ走査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-122782   出願人：セイコーインスツルメンツ株式会社
• 静電力駆動小型光スキャナ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-334064   出願人：松下電器産業株式会社

審査官引用 (1件)

• 光変調装置及びその光変調装置の製造方法並びにその光変調装置を具備する画像形成装置及びその光変調装置を具備する画像投影表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-097590   出願人：株式会社リコー