自由曲面形状測定方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：三好秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-064431
公開番号（公開出願番号）：特開2002-267438
出願日： 2001年03月08日
公開日（公表日）： 2002年09月18日
要約：

【要約】【課題】自由曲面の面直方向の形状精度を測定すること。【解決手段】自由曲面任上の測定点Sにおける法線ベクトルを示す情報より測定点Sにおいて法線ベクトル方向に所定量オフセットしたオフセット位置Pofに測定子中心が位置するようにタッチプローブ11を軸移動させ、タッチプローブ11をオフセット位置Pofより測定点Sの法線ベクトル方向に移動させてタッチプローブ11を被測定物の表面に接近接触させ、オフセット位置Pofより被測定物の表面との接触位置までの移動量あるいはそれと等価の数量値を求める。

請求項（抜粋）：

自由曲面の任意の座標位置を測定点とし、その座標位置における法線ベクトルを示す情報を自由曲面の曲面データより取得し、球状あるいは半球状の測定子を有するタッチプローブを使用し、取得した法線ベクトルを示す情報より前記測定点において法線ベクトル方向に所定量オフセットした位置を設定し、そのオフセット位置に測定子中心が位置するようにタッチプローブを軸移動させ、タッチプローブを前記オフセット位置より前記測定点の法線ベクトル方向に移動させてタッチプローブを被測定物の表面に接近接触させ、前記オフセット位置より被測定物の表面との接触位置までの移動量あるいはそれと等価の数量値を求めることを特徴とする自由曲面形状測定方法。

IPC (4件)：

G01B 21/20 101 , B23Q 17/20 , G01B 21/00 , G05B 19/408

FI (4件)：

G01B 21/20 101 , B23Q 17/20 Z , G01B 21/00 P , G05B 19/408 E

Fターム (24件)：

2F069AA04 , 2F069AA06 , 2F069AA66 , 2F069BB40 , 2F069EE07 , 2F069FF01 , 2F069FF07 , 2F069GG01 , 2F069GG12 , 2F069GG14 , 2F069GG52 , 2F069GG62 , 2F069GG72 , 2F069HH01 , 2F069JJ04 , 2F069LL02 , 3C029BB01 , 5H269AB05 , 5H269BB03 , 5H269CC02 , 5H269DD01 , 5H269JJ18 , 5H269MM05 , 5H269NN14

引用特許：

審査官引用 (5件)

ワークの形状寸法測定方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-291159 出願人：株式会社牧野フライス製作所
特開平3-021813
特開平3-021813

全件表示

前のページに戻る