特許
J-GLOBAL ID:200903067191545802

レンズメータ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三澤 正義
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-303013
公開番号(公開出願番号):特開2001-124662
出願日: 1999年10月25日
公開日(公表日): 2001年05月11日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、迅速かつ高精度に被検レンズの光学特性を測定できるレンズメータを提供する。【解決手段】 被検レンズLの測定光路30に臨ませて配置され複数の光束通過孔を中央領域、周辺領域に分けて形成した内側ターゲット部、外側ターゲット部を設けたターゲット板25と、被検レンズL、ターゲット板25を経て中央領域、周辺領域に投影される複数のターゲット像を受光する受光手段12と、この受光手段12により受光する前記内側ターゲット部からの複数のターゲット像、外側ターゲット部からの複数のターゲット像の各受光信号を利用して被検レンズの測定部位の光学特性を求める特性算出手段と、各複数のターゲット像の各受光信号を利用して被検レンズLの測定部位を特定する測定部位判定手段と、特性算出手段、測定部位判定手段の処理結果を表示し、被検レンズLの光学特性分布及び測定部位を判定可能とする表示手段とを有するものである。
請求項(抜粋):
レンズ受上に載置される被検レンズを透過した測定光束を基にこの被検レンズの光学特性を求めるレンズメータにおいて、被検レンズの測定光路に臨ませて配置され複数の光束通過孔を中央領域、周辺領域に分けて形成したターゲット板と、前記被検レンズ、ターゲット板を経て中央領域、周辺領域に投影される複数のターゲット像を受光する受光手段と、この受光手段により受光する前記ターゲット板を経た複数のターゲット像の各受光信号を利用して被検レンズの測定部位の光学特性を求める特性算出手段と、前記各複数のターゲット像の各受光信号を利用して被検レンズの測定部位を特定する測定部位判定手段と、を有することを特徴とするレンズメータ。
Fターム (1件):
2G086HH02
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • レンズメーター
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-259171   出願人:株式会社トプコン
  • レンズメーター
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-341840   出願人:株式会社トプコン

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