特許
J-GLOBAL ID：200903067412574969
光デイスク検査方法及び光デイスク検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田辺 恵基
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-284297
公開番号（公開出願番号）：特開平7-121910
出願日： 1993年10月19日
公開日（公表日）： 1995年05月12日
要約：
【要約】【目的】光デイスクやスタンパのトラツクピツチを定量的に測定することにより、光デイスクの品質を向上させることができる光デイスク検査方法及び光デイスク検査装置を提案する。【構成】記録トラツクTR1上を走査するようにメインビームMB2を照射しかつメインビームMB2が走査する記録トラツクTR1に隣合う記録トラツクTR2、TR3に対して一部が掛かるようにサブビームSB3、SB4を照射し、このときサブビームSB3、SB4の反射光量に基づいて記録トラツクTR1〜TR3のトラツクピツチを求めるようにしたことにより、トラツクピツチを定量的に測定し得、光デイスクの品質を向上させることができる。
請求項（抜粋）：
光デイスク又は上記光デイスクを成形する型の情報記録面の状態を検査する光デイスク検査方法において、所定の回転駆動手段により回転された上記光デイスク又は上記型の記録トラツク上にメインビームを照射すると共に上記情報記録面にサブビームを照射し、当該サブビームの上記情報記録面からの反射光の光量に基づいて上記記録トラツクの間隔を検査することを特徴とする光デイスク検査方法。
IPC (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
