特許

J-GLOBAL ID：200903067458995527

液晶表示パネルの検査装置及び検査方法

発明者： 國武 隆
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (2件)： 前田 弘 ,  竹内 祐二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-220783
公開番号（公開出願番号）：特開2008-045959
出願日： 2006年08月12日
公開日（公表日）： 2008年02月28日
要約：

【課題】液晶表示パネル自体を点灯させずに、液晶表示パネルと偏光板との間に介在する偏光板異物を確実に検出する。【解決手段】被検査パネルとして偏光板が貼り付けられ液晶表示パネル10を保持するステージ15と、ステージ15の下方に設けられ、被検査パネルに対し光を供給する透過光源21と、ステージ15の上方に設けられ、被検査パネルに対し光を斜めに供給する反射光源23と、ステージ15の上方に設けられ、透過光源21から供給され被検査パネルを透過する透過光による画像、及び反射光源23から供給され被検査パネルの表面で反射する反射光による画像を撮影するための撮像部26とを有し、ステージ15及び撮像部26の間には、被検査パネルの偏光板の偏光軸に対し直交する偏光軸を有し、反射光の光路に対し抜き差し可能な偏光フィルター25が設けられている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備え、上記各基板の表面に偏光板がそれぞれ貼り付けられた液晶表示パネルに対し、上記各基板及び偏光板の間における異物を検出する液晶表示パネルの検査装置であって、 被検査パネルである上記液晶表示パネルを保持するパネル保持部と、 上記パネル保持部の下方に設けられ、上記被検査パネルに対し上記一方の基板側から光を供給する透過光源と、 上記パネル保持部の上方に設けられ、上記被検査パネルに対し上記他方の基板側から光を斜めに供給する反射光源と、 上記パネル保持部の上方に設けられ、上記透過光源から供給され上記被検査パネルを透過する透過光による画像、及び上記反射光源から供給され上記被検査パネルの表面で反射する反射光による画像を撮影するための撮像部とを有し、 上記パネル保持部及び撮像部の間には、上記他方の基板側に貼り付けられた偏光板の偏光軸に対し直交する偏光軸を有し、上記反射光の光路に対し抜き差し可能な偏光フィルターが設けられていることを特徴とする液晶表示パネルの検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13

FI (3件)：

G01N21/88 H ,  G01M11/00 T ,  G02F1/13 101

Fターム (16件)：

2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051BA01 ,  2G051BA11 ,  2G051BB07 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051CC07 ,  2G051CC20 ,  2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088FA30 ,  2H088HA01 ,  2H088HA18 ,  2H088MA20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 保護膜付き偏光板の検査装置および検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-171874   出願人：タイヨー電機株式会社