特許
J-GLOBAL ID：200903067465690430
眼底観察装置及び眼底観察方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
橋爪 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-125279
公開番号（公開出願番号）：特開2004-329282
出願日： 2003年04月30日
公開日（公表日）： 2004年11月25日
要約：
【課題】眼底画像の質を向上させるように補正し、最適な画像を取得する。【解決手段】眼底観察系3は、眼底照明系2の照明による眼底の像を補正する補償光学部70を介して、眼底画像を取得する。波面補正系1は、被検眼の波面収差及び/又は補正される収差を含む波面測定データを測定し、被検眼の光学特性を求める。画像データ形成部14-2は、眼底での見え具合のシミュレーションを行い、シミュレーション画像データ又はMTFのデータを算出する。補正量決定部14-3は、メモリ14-4に記憶されている電圧変化テンプレートに従い、補正量を決定して制御部15に出力する。また、補正量決定部14-3は、複数の電圧変化テンプレートに対するシミュレーション結果に基づき、パターンのマッチングの度合いを示す値又は眼底の細胞の空間周波数に応じたMTFデータを算出し、適正な補正量を決定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被検眼眼底を観察するための照明光を眼底に照明する眼底照明系と、
上記眼底照明系の照明による眼底の像を与えられた補正量に従い補正する補償光学部と、
上記補償光学部により補正された眼底の像を受光し、眼底画像を形成するための眼底画像形成用光学系と、
上記眼底画像形成用光学系で形成された眼底画像を受光する眼底画像受光部と、
少なくとも被検眼の波面収差及び/又は上記補償光学部により補正される収差を含む波面測定データを測定する波面測定系と、
上記波面測定系から波面測定データを得て、被検眼の高次収差を含む光学特性を求める光学特性測定部と、
上記光学特性測定部で求められた光学特性に基づき、眼底における像の見え具合のシミュレーションを行い、見え具合を示すデータを算出する画像データ形成部と、
上記補償光学部を調整するための複数の電圧変化テンプレートを記憶する記憶部と、
上記記憶部に記憶されている電圧変化テンプレートを選択し、該テンプレートに基づき上記補償光学部の補正量を決定して上記補償光学部に出力し、さらに、複数の電圧変化テンプレートに基づく補正量に対して、上記画像データ形成部により求められた像の見え具合を示すデータに基づき、像の質を評価するための評価データを算出し、該評価データに従い上記補償光学部の適正な補正量を決定して上記補償光学部に出力するための補正量決定部と
を備えた眼底観察装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
前のページに戻る
