特許

J-GLOBAL ID：200903067526884747

エッジ検出方法及びエッジ検出装置

発明者： 戸塚 卓志 ,  光永 知生 ,  横山 琢
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-134418
公開番号（公開出願番号）：特開平8-329252
出願日： 1995年05月31日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：

【要約】【目的】 不要なエッジの混入を防ぎ、エッジ検出精度を高めたエッジ検出方法を提供する。【構成】 濃淡データで構成される入力画像データFinにおける各位置のエッジ方向Tを推定する(ステップS4.1)。また、各位置におけるグラディエントGを求める(ステップS4.2.2)。そして、推定したエッジ方向TとグラディエントGのなす角度のコサインを、推定したエッジ方向Tと長さを「1」に正規化したグラディエントGの内積として求めてエッジ強度を算出し、画素値が周囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして検出する(ステップS4.2.4)。

請求項（抜粋）：

濃淡データで構成される入力画像データの中から、画素値が周囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして検出するエッジ検出方法であって、入力画像データにおける各位置のエッジ方向を推定すると共に、各位置におけるグラディエントを求め、推定したエッジ方向の情報を補助情報とし、上記補助情報と上記グラディエントからエッジ強度を算出してエッジを検出することを特徴とするエッジ検出方法。

IPC (3件)：

G06T 9/20 ,  G06T 5/20 ,  H04N 1/409

FI (3件)：

G06F 15/70 335 Z ,  G06F 15/68 405 ,  H04N 1/40 101 D

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭60-200373
  
• エッジ及び輪郭抽出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-256406   出願人：株式会社東芝
• エッジ検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-032999   出願人：松下電工株式会社
• 特開平1-131974