特許
J-GLOBAL ID：200903067903514763

金属検出装置

発明者：
齋川 知秀

齋川 知秀 について

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倉谷 隆博

倉谷 隆博 について

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井村 聡太郎

井村 聡太郎 について

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大宮 正

大宮 正 について

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中島 孝浩

中島 孝浩 について


出願人/特許権者：
味の素株式会社

味の素株式会社 について

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日新電子工業株式会社

日新電子工業株式会社 について


代理人 (1件)： 山木 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-303783
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118766
出願日： 1997年10月17日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：
【要約】【課題】 容易に被検物質の位相特性や位相特性グラフを得ることができると共に、装置の運転時間中連続してその動作を監視することにより、装置の動作を連続的に記録し、いつでも検出データを適格に分析できる金属検出装置を提供する。【解決手段】 金属異物を磁気的に検出するための検出信号を出力するサーチコイル100と、サーチコイルが出力した検出信号をX軸とY軸の直交座標におけるX軸成分とY軸成分に分けて抽出すると共に、この各々の成分について検波して各々の信号を出力する同期検波器105と、この同期検波器105が出力したX軸とY軸の各々の信号を信号処理して、金属の混入を判別したときは金属検出信号を出力するX・Y位相検出演算装置108と、X軸成分とY軸成分に係る信号のデータを、このデータを採取した日時と共に、装置の運転時間中連続して記録するXYデータ記憶装置110とを備えた。
請求項（抜粋）：
被検物質内に混入した金属異物を磁気的に検出するための検出信号を出力する検出部と、前記検出部が出力した検出信号をX軸とY軸の直交座標におけるX軸成分とY軸成分に分けて抽出すると共に、この各々の成分について検波してX軸成分とY軸成分に係る信号を出力する弁別検波手段と、前記弁別検波手段が出力したX軸成分とY軸成分に係る信号を信号処理して、金属の混入を判別したときは金属検出信号を出力する信号処理手段と、前記X軸成分とY軸成分に係る信号のデータを、このデータを採取した日時と共に、装置の運転時間中連続して記録する記録手段と、を備えたことを特徴とする金属検出装置。
IPC (3件)：
G01N 27/72 ,  G01V 3/10 ,  G01V 3/11
FI (3件)：
G01N 27/72 ,  G01V 3/10 F ,  G01V 3/11 C
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)

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