特許

J-GLOBAL ID：200903067955428822

半導体装置

発明者： 折田 昭一
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-332583
公開番号（公開出願番号）：特開2003-133927
出願日： 2001年10月30日
公開日（公表日）： 2003年05月09日
要約：

【要約】【課題】 負荷がL負荷の場合、負荷が過渡的に負側に変動し、これに伴い流れるリカバリー信号により誤動作する。【解決手段】 HVICにおけるハイサイド部のレベルシフト回路において、スイッチON用のレベルシフト用抵抗およびスイッチOFF用のレベルシフト抵抗をそれぞれ2つにスプリットし、それぞれの一方の抵抗の両端の電位をAon、BonおよびAoff、Boff信号として取り出し、それらの信号に対し、dv/dtに基づく誤動作をロジック的に排除するめために設けたロジックフイルタにおいて、Aon、AoffよりもBon、Boffの出力期間が長い場合には、リカバリー信号の検出と判定して異常信号を出力しない手段を備えた。

請求項（抜粋）：

HVICにおけるハイサイド部のレベルシフト回路において、スイッチON用のレベルシフト用抵抗およびスイッチOFF用のレベルシフト抵抗をそれぞれ2つにスプリットし、それぞれの一方の抵抗の両端の電位をAon、BonおよびAoff、Boff信号として取り出し、それらの信号に対し、dv/dtに基づく誤動作をロジック的に排除するめために設けたロジックフイルタにおいて、Aon、AoffよりもBon、Boffの出力期間が長い場合には、リカバリー信号の検出と判定して異常信号を出力しない手段を備えたことを特徴とする半導体装置。

IPC (3件)：

H03K 17/16 ,  H02M 1/08 351 ,  H03K 17/695

FI (3件)：

H03K 17/16 F ,  H02M 1/08 351 A ,  H03K 17/687 B

Fターム (26件)：

5H740AA04 ,  5H740BA12 ,  5H740BB05 ,  5H740BB08 ,  5H740BB10 ,  5H740BC01 ,  5H740KK01 ,  5J055AX25 ,  5J055BX16 ,  5J055CX19 ,  5J055DX22 ,  5J055DX72 ,  5J055EX07 ,  5J055EY01 ,  5J055EY10 ,  5J055EY12 ,  5J055EY21 ,  5J055EZ07 ,  5J055EZ14 ,  5J055EZ20 ,  5J055EZ25 ,  5J055EZ32 ,  5J055FX17 ,  5J055FX32 ,  5J055GX01 ,  5J055GX06

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 駆動回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-329197   出願人：三菱電機株式会社