特許

J-GLOBAL ID：200903068139079670

測定装置及び測定システム

発明者： 柳沢 哲二 ,  小西 平和
出願人/特許権者： アイサンテクノロジー株式会社
代理人 (1件)： 飯田 昭夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-186598
公開番号（公開出願番号）：特開2001-012950
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】 ミラーの立て間違いや記録ミス・入力ミスを防ぐことができ、視準が容易で、ミスを発見し易い測定装置及び測定システムを提供する。【解決手段】 測定装置であるコンピューター1は、スケッチ手段と実測形状表示手段と変形手段と誘導手段を有し、測定システムは、コンピューター1が記憶したスケッチに基づいてトータルステーション2を観測ポイントの方向に向くように誘導するとともに、トータルステーション2からコンピューター1に観測データを送る。

請求項（抜粋）：

観測対象のスケッチを入力し記憶すると共にスケッチ形状を画面に表示するスケッチ手段と、該観測対象を実測して得られた観測データを入力し該スケッチと対応づけて記憶する観測データ記憶手段とを有することを特徴とする測定装置。

IPC (3件)：

G01C 15/00 ,  G06F 3/033 350 ,  H04Q 7/38

FI (4件)：

G01C 15/00 Z ,  G01C 15/00 P ,  G06F 3/033 350 Z ,  H04B 7/26 109 M

Fターム (20件)：

5B087AA00 ,  5B087AE07 ,  5B087BC12 ,  5B087BC13 ,  5B087BC16 ,  5B087BC26 ,  5B087BC32 ,  5B087DD09 ,  5B087DD16 ,  5B087DD17 ,  5B087DE00 ,  5B087DJ01 ,  5K067AA33 ,  5K067BB28 ,  5K067EE02 ,  5K067EE12 ,  5K067FF02 ,  5K067FF23 ,  5K067HH22 ,  5K067HH23

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 施工情報の管理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-287133   出願人：株式会社熊谷組
• 特開平3-056814
  
• 現況測量平面図作成方法及び作成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-210487   出願人：株式会社和光測機