特許

J-GLOBAL ID：200903068207966079

三次元形状測定方法、三次元形状測定装置

発明者： 柳澤 邦晃 ,  西木 亮
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-196217
公開番号（公開出願番号）：特開2004-037317
出願日： 2002年07月04日
公開日（公表日）： 2004年02月05日
要約：

【課題】精度良く測定できる三次元形状測定方法、及び三次元形状測定装置を提供する。【解決手段】光源2と、光源の光軸上に配置され、上記光源からの光によりスリット光を形成するためのパターン形成手段3と、スリット光を測定対象物に対して集光するための投光レンズ4とを備える光学系1を設ける。上記スリット光を絞るための、スリット方向のサイズよりスリット方向と垂直方向のサイズが小さい開口部を有する非対称絞り5を設ける。上記スリット光による測定対象物6からの反射光に基づき上記測定対象物6の三次元形状を測定するための撮像光学系8を設ける。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光切断法を用いた三次元形状測定方法において、 光源を備える光学系からのスリット光を、スリット方向と垂直方向に絞り、測定対象物に投影し、 上記スリット光による測定対象物からの反射光に基づき上記測定対象物の三次元形状を測定することを特徴とする三次元形状測定方法。

IPC (1件)：

G01B11/24

FI (1件)：

G01B11/24 A

Fターム (12件)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC26 ,  2F065FF01 ,  2F065FF09 ,  2F065GG02 ,  2F065HH06 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065LL28

引用特許：

審査官引用 (4件)

• スリット光プロジェクタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-239068   出願人：日立電子株式会社
• 光切断法による対象物の三次元計測方法およびその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-078033   出願人：日本アビオニクス株式会社
• 膜状光束形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-338548   出願人：三菱重工業株式会社
• 特許第2827312号