特許

J-GLOBAL ID：200903068301980662

光線路監視システムの試験方法

発明者： 佐久間 健 ,  佐々木 研 ,  青山 好則 ,  片寄 浩一 ,  野村 義和
出願人/特許権者： 株式会社フジクラ
代理人 (1件)： 志賀 正武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-327380
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170395
出願日： 1996年12月06日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 光線路監視システム自体の異常を確実に検出できる試験方法が求められていた。【解決手段】 試験光線路8、23に設けた試験ポート27に反射手段35を設けて全反射端を構成した後、光パルス試験器20から試験光線路23に試験光を入射して反射光を観測する第1の工程と、試験ポート27に反射防止手段33を付け替えて無反射端あるいは低反射端を構成した後、光パルス試験器20から試験光線路8、23に試験光を入射して反射光を観測する第2の工程とを備えてなり、第1、第2の工程のいずれか一方を先行して実施した後、他方を実施する試験方法により、試験光線路の異常を確実に検出する。

請求項（抜粋）：

試験光を試験光線路(8、23、24、26)に入射して該試験光線路と接続した通信光線路(9)に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器(20)と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する心線選択装置(21)とを備えた光線路監視システムの試験方法であって、試験光線路に設けた試験ポート(27)に反射手段(35、41)を設けて反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第1の工程と、試験ポートに反射防止手段(33)を付け替えて無反射端あるいは低反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第2の工程とを備えてなり、第1、第2の工程のいずれか一方を先行して実施した後、他方を実施することを特徴とする光線路監視システムの試験方法。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G02B 6/24

FI (2件)：

G01M 11/00 R ,  G02B 6/24

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 光線路試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-039872   出願人：日本電信電話株式会社
• 特開平2-001632