リード浮きの検査方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：橘哲男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-245984
公開番号（公開出願番号）：特開平10-093299
出願日： 1996年09月18日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：

【要約】【課題】半田付け状態を検査する方法にあっては、半田有無や半田量およびブリッジの状態検査には適するが、リードがパッドから浮いた状態で半田付けされている、いわゆる、リード浮きを検査することは困難であるといった問題があった。【解決手段】プリント基板Pに実装された電子部品EのリードE1 部分にレーザ光を照射し、その反射光を受光手段9により受光して半田付け状態を検出する検査方法において、前記電子部品のリードを横切る方向と、該リードの先端におけるパッドP1 を横切る方向にレーザ光を掃引し、前記リードの長手方向の両側と、前記パッドの両側の反射光を受光手段によって受光し、該受光手段による前記反射光の受光領域の相違からリードの浮きや未半田を判断するようにしたリード浮き検査方法である。

請求項（抜粋）：

プリント基板に実装された電子部品のリード部分にレーザ光を照射し、その反射光を受光手段により受光して半田付け状態を検出する検査方法において、前記電子部品のリードの長手方向の両側と、前記パッドの両側にレーザ光を掃引し、その反射光を受光手段によって受光し、該受光手段による前記反射光の受光領域の相違からリードの浮きや未半田を判断するようにしたことを特徴とするリード浮き検査方法。

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平4-355309
特開平4-190145
特開平4-147043

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