特許
J-GLOBAL ID：200903068458101573
光ケーブル用スペーサの検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-226336
公開番号（公開出願番号）：特開2003-043325
出願日： 2001年07月26日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：
【要約】【課題】 スペーサのスロット溝の形成状況を簡便かつ正確に検出することのできる光ケーブル用スペーサの検査方法を提供すること。【解決手段】 本発明の光ケーブル用スペーサの検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサ2を検査するものである。本発明方法では、繰り出されているスペーサ2の線速を測定すると共に、繰り出されているスペーサの近傍にレーザー変位計15を配設してスペーサ2の表面との距離を測定し、測定した線速及びスペーサ2との距離変化から溝を検知・カウントし、所定の溝数をカウントする時間と線速とに基づいて、スロット溝の形成ピッチを検出する。この結果、スペーサ2を傷つけることなく、正確な形成ピッチを測定することができる。
請求項（抜粋）：
外周面上に光ファイバを収納する複数の螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサの検査方法であって、繰り出されている前記スペーサの線速を測定すると共に、繰り出されている前記スペーサの近傍にレーザー変位計を配設して前記スペーサ表面との距離を測定し、前記スペーサとの距離変化から溝を検知・カウントし、所定の溝数をカウントする時間と線速に基づいて、前記スロット溝の形成ピッチを検出することを特徴とする光ケーブル用スペーサの検査方法。
IPC (6件)：
G02B 6/44 391
, G02B 6/44 371
, G01B 11/14
, G01B 11/22
, G01B 11/24
, G01B 11/26
G02B 6/44 391
, G02B 6/44 371
, G01B 11/14 Z
, G01B 11/22 Z
, G01B 11/26 Z
, G01B 11/24 G
2F065AA02
, 2F065AA06
, 2F065AA20
, 2F065AA22
, 2F065AA25
, 2F065AA31
, 2F065BB05
, 2F065BB12
, 2F065BB15
, 2F065BB18
, 2F065CC23
, 2F065DD06
, 2F065FF33
, 2F065FF41
, 2F065FF64
, 2F065GG04
, 2F065JJ05
, 2F065MM03
, 2F065QQ28
, 2F065QQ51
, 2H001BB09
, 2H001BB12
, 2H001DD04
, 2H001DD09
, 2H001DD23
, 2H001MM02
