特許
J-GLOBAL ID：200903068574281732

分析装置

発明者：
野澤 修

野澤 修 について


出願人/特許権者：
オリンパス株式会社

オリンパス株式会社 について


代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-001728
公開番号（公開出願番号）：特開2008-170191
出願日： 2007年01月09日
公開日（公表日）： 2008年07月24日
要約：
【課題】キャリブレーション分析処理におけるコスト負担低減と分析装置の分析精度確保との双方を実現する分析装置を提供すること。【解決手段】本発明にかかる分析装置1は、キャリブレーターを分析するキャリブレーション分析処理とブランク試料を用いたブランク分析処理とを分析項目ごとに行ない分析精度を維持する分析装置であって、分析項目ごとにキャリブレーション分析処理とブランク分析処理との実行タイミングを独立して管理する管理部32を備え管理部32は、ブランク分析結果の精度管理上の有効期限が切れる前および試薬補充時に少なくともブランク分析処理を実行させ、キャリブレーション分析結果の精度管理上の有効期限が切れる前および試薬補充時にキャリブレーション分析処理を実行させることを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
キャリブレーターを分析するキャリブレーション分析処理とブランク試料を用いたブランク分析処理とを分析項目ごとに行ない分析精度を維持する分析装置において、 前記分析項目ごとに前記キャリブレーション分析処理と前記ブランク分析処理との実行タイミングを独立して管理する管理手段を備え、 前記管理手段は、ブランク分析結果の精度管理上の有効期限が切れる前および試薬補充時に少なくとも前記ブランク分析処理を実行させ、キャリブレーション分析結果の精度管理上の有効期限が切れる前および試薬補充時に前記キャリブレーション分析処理を実行させることを特徴とする分析装置。
IPC (1件)：
G01N 35/00
FI (2件)：
G01N35/00 A ,  G01N35/00 C
Fターム (7件)：
2G058BB07 ,  2G058CB04 ,  2G058CB15 ,  2G058CD04 ,  2G058CE08 ,  2G058GA03 ,  2G058GD02
引用特許：
出願人引用 (7件)
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-063706   出願人：株式会社日立製作所
  • 特開昭61-040569
  • 自動分析装置及びネットワークシステム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-122883   出願人：オリンパス光学工業株式会社
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審査官引用 (3件)

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