対象物測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：平井安雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-240479
公開番号（公開出願番号）：特開2007-057277
出願日： 2005年08月22日
公開日（公表日）： 2007年03月08日
要約：

【課題】測定対象物の光特性及び電気特性を用いて単一の検知手段(センサ)で測定対象物の特性及び位置を簡易で迅速且つ確実に測定できる対象物測定装置を提供する。【解決手段】測定対象物100に対して可視光線を照射する光照射手段1と、この可視光線が照射された測定対象物100からの反射光を受光し、この受光光により二つの電極22a・22b、23a・23b間の光電半導体の抵抗値を変化させる二つのCdsセル22、23を間隔dで離隔配設し、このCdsセル22の外側の電極に交流電源25が接続されると共に、他のCdsセル23の外側の電極23aが出力端子26として形成される検知手段2と、この検知手段2の出力端子26からの検知信号に基づき前記測定対象物の距離及び材質を判別する測定対象物判別手段3とを備える構成とした。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象物に対して光を照射する光照射手段と、光が照射された測定対象物からの反射光を受光し、当該受光光により二つの所定面積を有する電極間光の光電半導体の抵抗値を変化させる複数の光導電素子を所定の間隔で離隔配設し、前記複数の光導電素子の少なくとも一の光導電素子の一方の電極に交流電源が接続されると共に、他の光導電素子の一方の電極が出力端子として形成される検知手段と、前記検知手段の出力端子からの検知信号に基づき前記測定対象物の位置及び特性を判別する測定対象物判別手段とを備えることを特徴とする対象物測定装置。

IPC (4件)：

G01B 7/02 , G01B 11/02 , G01C 3/06 , G01B 21/02

FI (4件)：

G01B7/02 B , G01B11/02 Z , G01C3/06 120R , G01B21/02 A

Fターム (30件)：

2F063AA22 , 2F063DA01 , 2F063DA05 , 2F063HA01 , 2F065AA06 , 2F065DD04 , 2F065GG07 , 2F065HH13 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ09 , 2F065JJ25 , 2F065NN12 , 2F065QQ23 , 2F065QQ25 , 2F065RR06 , 2F065UU02 , 2F069AA42 , 2F069GG04 , 2F069GG07 , 2F069GG52 , 2F069GG58 , 2F069HH09 , 2F112AA07 , 2F112CA12 , 2F112DA22 , 5F089BA02 , 5F089BB02 , 5F089BC03 , 5F089BC09

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平3-125904
特開平3-263378
パターン形成用基体とこのパターン形成用基体を用いたパターン形成方法及びこの方法により製造されたパターン形成体
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-328665 出願人：凸版印刷株式会社

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