特許
J-GLOBAL ID：200903068790734415

飛行時間型質量分析装置及びイオンビーム用収束レンズ

発明者：
杉山 尚樹

杉山 尚樹 について


出願人/特許権者：
横河アナリティカルシステムズ株式会社

横河アナリティカルシステムズ株式会社 について


代理人 (1件)： 高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-347779
公開番号（公開出願番号）：特開平10-188881
出願日： 1996年12月26日
公開日（公表日）： 1998年07月21日
要約：
【要約】【課題】 飛行時間型質量分析装置の質量依存性及びイオン源の特性変動に対するrobust性を改善する。【解決手段】 パルサ20のイオン出射口22の連続イオン流方向の開口大きさEを、パケット状のイオン24を検出する検出器30の連続イオン流方向の開口大きさDの2倍以上とする。
請求項（抜粋）：
パルサでの直交加速により、ビーム状の連続イオン流からパケット状のイオンを直交方向に出射させて、検出器に入射させるようにした飛行時間型質量分析装置において、パルサのイオン出射口の連続イオン流方向の開口大きさを、イオンを検出する検出器の連続イオン流方向の開口大きさよりも十分大きくしたことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/40 ,  H01J 37/12 ,  H01J 49/06
FI (3件)：
H01J 49/40 ,  H01J 37/12 ,  H01J 49/06
引用特許：
審査官引用 (6件)
  • 特開平3-269943
  • 質量分析計および静電レンズ
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-232833   出願人：株式会社日立製作所
  • 特開平2-078143
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