特許
J-GLOBAL ID:200903069132527844

半導体集積回路およびクロック生成用電子部品

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大日方 富雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-339866
公開番号(公開出願番号):特開2006-148840
出願日: 2004年11月25日
公開日(公表日): 2006年06月08日
要約:
【課題】 ノイズの発生が少なく周辺回路や電子部品の誤動作を減少させることができるクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路およびクロック生成用電子部品(SSCGモジュール)を提供する。【解決手段】 周波数可変な発振器(116)を有し基準となる信号と発振器の出力発振信号を分周したフィードバック信号の位相を比較して前記発振器の発振周波数を制御するPLL回路を備え、出力発振信号の周波数を所定の周期で変調させる機能を有するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路において、フィードバック経路上の分周回路(117)の分周比を切り替えて変調波形の大きな変化を決定するとともに、前記発振器の出力発振信号の位相をシフトした複数の信号を生成もしくは選択可能にしてフィードバックされる信号の位相を切り替えることで変調波形の細かな制御を行なうようにした。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
所定の回路に供給する為のクロック信号の周波数を所定の周期で変調させる機能を有するクロック生成回路を内蔵した半導体集積回路であって、 上記クロック生成回路は、発振周波数が可変な第一発振回路と、該第一発振回路の出力発振信号を分周する分周比可変な分周回路と、該分周回路で分周されたフィードバック信号の位相と基準となる信号の位相とを比較する位相比較回路とを有し、該位相比較回路により検出された位相差に応じて上記第一発振回路の発振周波数を制御するPLL回路を備え、 上記第一発振回路は互いに位相の異なる複数の発振信号を出力可能に構成され、該複数の発振信号の中からいずれか1つの第一発振信号を選択して上記分周回路に供給し、 上記分周回路の分周比の変更と、選択される上記第一発信信号を順次変更して上記分周回路に供給することとによって、上記第一発振回路が生成するクロック信号の周波数を変調させるように構成されていることを特徴とする半導体集積回路。
IPC (1件):
H03L 7/183
FI (1件):
H03L7/18 B
Fターム (13件):
5J106AA04 ,  5J106CC01 ,  5J106CC24 ,  5J106CC41 ,  5J106CC53 ,  5J106DD18 ,  5J106GG09 ,  5J106HH02 ,  5J106JJ05 ,  5J106KK24 ,  5J106PP03 ,  5J106QQ06 ,  5J106RR18
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • EMI低減PLL
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-273147   出願人:三星電子株式会社

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