特許
J-GLOBAL ID：200903069169818334
不良検出装置及び不良物除去装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-040823
公開番号（公開出願番号）：特開平9-225413
出願日： 1996年02月28日
公開日（公表日）： 1997年09月02日
要約：
【要約】【課題】 米粒についての透過光及び反射光の両受光情報に基づいて米粒の不良や異物を的確に検出し、不良米や異物を正常な米粒から分離して除去する。【解決手段】 所定経路に沿って移送されている検査対象物(米粒群k)が照明手段4にて照明され、その照明光が米粒群kを透過した透過光が透過光受光手段5Aにて受光され、照明光が米粒群kで反射した反射光が反射光受光手段5Bにて受光され、その両受光情報に基づいて米粒の良否又は異物の存否が判別され、さらに、その判別結果に従って不良物が正常な米粒と異なる経路に分離されて除去される。
請求項（抜粋）：
米粒群を検査対象物として米粒の良否又は米粒群内に混入している異物を検出する不良検出装置であって、検査対象物を照明する照明手段(4)と、その照明手段(4)からの照明光が検査対象物を透過した透過光を受光する透過光受光手段(5A)と、前記照明手段(4)からの照明光が検査対象物で反射した反射光を受光する反射光受光手段(5B)と、前記両受光手段(5A),(5B)の受光情報に基づいて前記米粒の良否又は前記異物の存否を判別する判別手段(100)とが設けられている不良検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B07C 5/342
, G01N 21/85 A
