特許
J-GLOBAL ID：200903069301519074
光信号品質評価方法および光信号品質評価装置並びに記憶媒体
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
谷 義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-012240
公開番号（公開出願番号）：特開2001-201401
出願日： 2000年01月20日
公開日（公表日）： 2001年07月27日
要約：
【要約】【課題】 被測定信号のビットレート、信号形式および変調形式によらずに単一の回路で品質評価精度を向上させる。【解決手段】 信号処理ユニット1503は、サンプリングオシロスコープ1502で得た信号強度分布のサンプリング点のうち、強度しきい値Aよりも高い強度の点群(a-1)からしきい値Aについて線対称な点群(a-2)を推定し、(a-1)、(a-2)全体をレベル1とし、別途定めた強度しきい値Bよりも低い強度の点群(b-1)からしきい値Bについて線対称な点群(b-2)を推定し、(b-1)、(b-2)全体をレベル0とする強度分布推定部1505と、得られた強度分布からレベル1とレベル0のそれぞれのある平均時間内での平均値強度の差と、レベル1とレベル0それぞれの当該平均時間内での標準偏差値の和との比として得られる信号対雑音比係数を評価する光信号品質評価部1506とを有する。
請求項（抜粋）：
ビットレートf0(bit/s)を有する光信号を電気強度変調信号に変換するステップと、クロック周波数f1(Hz)(f1=(N/M)f0+a、aはオフセット周波数、N,Mは正の整数)で該電気強度変調信号強度をサンプリングすることによって光信号の強度分布を測定するステップと、前記被測定光信号の強度分布を構成するサンプリング点のうち、あらかじめ定めた強度しきい値(A)よりも高い強度の点群(a-1)からその強度しきい値(A)について線対称な点群(a-2)を推定し、該点群(a-1)かつ該点群(a-2)全体を「レベル1」とし、別途定めた強度しきい値(B)よりも低い強度の点群(b-1)からその強度しきい値(B)について線対称な点群(b-2)を推定し、該点群(b-1)かつ該点群(b-2)全体を「レベル0」とするステップと、前記「レベル1」と前記「レベル0」のそれぞれのある平均時間内での平均値強度の差と、前記「レベル1」と前記「レベル0」のそれぞれの当該平均時間内での標準偏差値の和との比として得られる信号対雑音比係数を評価するステップとを有することを特徴とする光信号品質評価方法。
IPC (5件)：
G01J 11/00
, G01R 13/40
, H04B 10/08
, H04J 3/00
, H04L 25/02 302
G01J 11/00
, G01R 13/40
, H04J 3/00 U
, H04L 25/02 302 C
, H04B 9/00 K
2G065AA04
, 2G065AA12
, 2G065BA01
, 2G065BB02
, 2G065BC03
, 2G065BC07
, 2G065BC14
, 2G065BC16
, 2G065BC22
, 2G065BC31
, 2G065BC35
, 2G065DA13
, 5K002DA05
, 5K002EA05
, 5K002FA01
, 5K028AA08
, 5K028BB08
, 5K028KK01
, 5K028PP04
, 5K028PP11
, 5K028SS03
, 5K029AA18
, 5K029CC04
, 5K029FF08
, 5K029HH13
, 5K029JJ01
, 5K029KK01
, 5K029KK28
