特許
J-GLOBAL ID：200903069374106630
座標位置検知方法およびこれを用いた表示装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小橋 信淳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-357906
公開番号（公開出願番号）：特開2001-175416
出願日： 1999年12月16日
公開日（公表日）： 2001年06月29日
要約：
【要約】【課題】 コスト上昇を防止できるとともに、コスト上昇を招くことなく解像度を向上させることができる座標位置検知方法およびこれを用いた表示装置を提供する。【解決手段】 水平方向および垂直方向で所定間隔を以て配列された発光素子12Aおよびこれに対向する受光素子12Bを用い、各発光素子12Aと受光素子12Bとの間に構成される光路が遮断された座標位置を検知する方法であって、上記発光素子12Aおよび受光素子12Bの一方の配列間隔を他方の配列間隔と異ならせ、上記発光素子12Aから受光素子12Bに向けてこれら素子の配列間隔に応じた指向角度を以て光ビームを出射させ、その光ビームの斜め方向の成分が入射する予定の受光素子12Bの座標位置とこの受光素子12Bに向けて光ビームを出射する発光素子12Aの座標位置とにより上記光ビームが遮断された座標位置を割り出すことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
水平方向および垂直方向で所定間隔を以て配列された発光素子およびこれに対向する受光素子を用い、各発光素子と受光素子との間に構成される光路が遮断された座標位置を検知する方法であって、上記発光素子および受光素子の一方の配列間隔を他方の配列間隔と異ならせ、上記発光素子から受光素子に向けてこれら素子の配列間隔に応じた指向角度を以て光ビームを出射させ、その光ビームの斜め方向の成分が入射する予定の受光素子の座標位置とこの受光素子に向けて光ビームを出射する発光素子の座標位置とにより上記光ビームが遮断された座標位置を割り出すことを特徴とする座標位置検知方法。
IPC (2件)：
G06F 3/033 360
, G06F 3/03 330
G06F 3/033 360 E
, G06F 3/03 330 F
5B068AA04
, 5B068AA22
, 5B068AA32
, 5B068BB18
, 5B068BC04
, 5B068BD02
, 5B068BD09
, 5B068BD20
, 5B068BE06
, 5B068CC11
, 5B087AA02
, 5B087BC03
, 5B087BC32
, 5B087CC03
, 5B087CC05
, 5B087CC12
, 5B087CC34
, 5B087DD02
, 5B087DJ03
