特許
J-GLOBAL ID：200903069627330494
細長ダクトを用いたラム圧縮型希薄流エアデータ計測手法とそのシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
大城 重信
, 山田 益男
, 佐藤 文男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-284953
公開番号（公開出願番号）：特開2009-109463
出願日： 2007年11月01日
公開日（公表日）： 2009年05月21日
要約：
【課題】希薄流や分子ビーム、微視的スケール流れなどの希薄気体効果の現われる高クヌーセン数流れ場の計測において、淀み圧と壁面温度を計測するだけで、速度の向き,速度,気流密度の決定を可能とする簡易な技術を提供する。【解決手段】先端部が開口した断面が矩形の導管の奥に淀み室が形成され、該淀み室には圧力センサーが配置されたものであって、前記導管は希薄流など高クヌーセン数流れのラム圧縮特性を反映するように入口径dと長さ寸法Lの比である縦横比d/Lが設計された圧力計測システムを用い、高クヌーセン数流れのラム圧縮特性に従って、ダクトの縦横比,壁面温度,主流速度,主流圧力,および迎角θに対する淀み室圧力の相関をあらかじめ定量化してデータベースとして蓄積しておくことにより、計測した淀み圧力値と、前記導管壁面の温度計測値から、高クヌーセン数流れの向き、速度の大きさ、気流密度を精度よく割り出す。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
先端部が開口した断面が矩形の導管の奥に淀み室が形成され、該淀み室には圧力センサーが配置されたものであって、前記導管は希薄流など高クヌーセン数流れのラム圧縮特性を反映するように入口径寸法dと長さ寸法Lの比である縦横比d/Lが設計された圧力計測システムを用い、高クヌーセン数流れのラム圧縮特性に従って、ダクトの縦横比,壁面温度,主流速度,主流圧力,および迎角θに対する淀み室圧力の相関をあらかじめ定量化してデータベースとして蓄積しておくことにより、計測した淀み圧力値と、前記導管壁面の温度計測値から、高クヌーセン数流れの速度の向き、速度の大きさ、気流密度を精度よく割り出すことを特徴とする計測手法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01P5/00 F
, G01P5/16 Z
, G01P5/00 J
