特許
J-GLOBAL ID：200903069633082818
散乱体の吸収情報の計測方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 石田 悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-064625
公開番号（公開出願番号）：特開2004-219426
出願日： 2004年03月08日
公開日（公表日）： 2004年08月05日
要約：
【課題】 種々の形状の散乱体内部の特定吸収成分の濃度変化や絶対値などを散乱体の外形形状に影響されずかつ高い空間解像度で計測する方法および装置を提供すること。【解決手段】 パルス光を発生させる光源と、パルス光を散乱体に入射する光入射部と、測定対象物の内部を伝播した光を受光する受光部と、受光部で得られた光信号の一部分を時間的に切り出し、切り出された信号に相当する測定信号を取得する信号検出部と、異なる複数のタイミングなどでそれぞれ測定信号を取得する計測を行い、得られた複数の測定信号のそれぞれに対して時間積分値および平均光路長を導出する第1の演算部と、複数の時間積分値、複数の平均光路長、吸収成分の単位濃度当たりの吸収係数、および吸収成分の濃度変化量との間の所定の関係に基づいて吸収成分の濃度の変化量を演算する第2の演算部とを備える、散乱体の吸収情報の計測装置。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
所定の波長のパルス光を発生させる第1ステップと、
前記パルス光を測定対象物である散乱体の表面における光入射位置にスポット状に入射する第2ステップと、
測定対象物の内部を伝播した光を、前記散乱体の表面における光検出位置で受光する第3ステップと、
前記第3ステップで得られた光信号の一部分を時間的に切り出し、切り出された信号に相当する測定信号を取得する第4ステップと、
前記光入射位置と前記光検出位置との間の距離を固定しつつ異なる複数の測定位置でそれぞれ前記第1乃至第4ステップを繰り返して行い、前記複数の測定位置において得られた複数の前記測定信号のそれぞれに対して時間積分値および平均光路長を導出する第5ステップと、
前記複数の時間積分値、前記複数の平均光路長、および吸収係数の差との間の所定の関係に基づいて、前記複数の測定位置の間における吸収係数の差を演算する第6ステップと、
を備えることを特徴とする散乱体の吸収情報の計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G059AA01
, 2G059AA06
, 2G059BB13
, 2G059CC18
, 2G059EE01
, 2G059FF02
, 2G059FF04
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059KK02
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059NN01
