特許
J-GLOBAL ID:200903069742303948
光学素子の静電容量検出装置、および静電容量検出装置を備えた光学装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長尾 達也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-058312
公開番号(公開出願番号):特開2001-249262
出願日: 2000年03月03日
公開日(公表日): 2001年09月14日
要約:
【要約】【課題】光学素子である可変焦点レンズの変形量変化に対応した静電容量を、静電容量検出電極を設けることなく、簡単な構成で精度良く検出することができ、その検出結果に基づいて光学装置の諸動作を精度良く制御することができる静電容量検出装置、および静電容量検出装置を備えた光学装置を提供すること。【解決手段】容器に設けられた第1電極と第2電極間への電圧印加による界面形状の変化によって光学的特性が変化する光学素子と、前記界面形状を変化させるために前記電極に所定の電圧を印加する給電手段、前記印加電圧を制御する制御手段、および前記第1電極と第2電極間の静電容量を検出する静電容量手段を有し、該静電容量手段によって前記光学素子の界面形状変化に対応した静電容量を検出する静電容量検出装置と、静電容量検出装置を備えた光学装置を構成する。
請求項(抜粋):
導電性または有極性の第1の液体及び該第1の液体と互いに混合することのない第2の液体を、それらの界面が所定の形状をなした状態で容器内に密閉し、該容器に設けられた第1電極と第2電極間への電圧印加による界面形状の変化によって光学的特性が変化する光学素子と、前記界面形状を変化させるために前記電極に所定の電圧を印加する給電手段、前記印加電圧を制御する制御手段、および前記第1電極と第2電極間の静電容量を検出する静電容量検出手段を有し、前記静電容量検出手段によって前記光学素子の界面形状変化に対応した静電容量を検出することを特徴とする光学素子の静電容量検出装置。
IPC (7件):
G02B 7/04
, G01B 11/00
, G01N 27/22
, G01R 27/26
, G02B 7/28
, G03B 3/04
, G03B 13/32
FI (6件):
G01B 11/00 A
, G01N 27/22 Z
, G01R 27/26 C
, G02B 7/04 Z
, G02B 7/11 Z
, G03B 3/04
Fターム (21件):
2F065AA02
, 2F065AA06
, 2F065LL10
, 2G028AA05
, 2G028BC04
, 2G028CG07
, 2G028DH04
, 2G028EJ01
, 2G028FK01
, 2G028GL07
, 2G028MS03
, 2G060AA09
, 2G060AE40
, 2G060AF10
, 2G060AG11
, 2G060EA06
, 2H044BF01
, 2H044BF05
, 2H051FA61
, 2H051GB00
, 2H051GB03
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開平1-304417
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特開平1-302301
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合焦点機構
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-215386
出願人:株式会社日立製作所
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