特許

J-GLOBAL ID：200903069862938670

断層画像化装置

発明者： 戸井田 昌宏 ,  西垣 純爾
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-007651
公開番号（公開出願番号）：特開2006-195240
出願日： 2005年01月14日
公開日（公表日）： 2006年07月27日
要約：

【課題】生体組織や生体細胞等の試料の光断層画像と蛍光断層画像とを同時に取得する。【解決手段】光源ユニット2が蛍光色素を励起する低コヒーレンス光からなるレーザ光を射出し、このレーザ光Lを光分割手段3が測定光L1と参照光L2とに分割する。周波数変調手段6が参照光L2と反射光L3との間に僅かな周波数差を与えた後、合波手段5が反射光L3と参照光L2とを合波する。干渉光検出手段7が反射光L3と参照光L2とが合波されたときの干渉光L5を検出するとともに、蛍光検出手段8が試料Sの蛍光色素が励起されることにより射出された蛍光L4を検出する。そして、画像生成手段9が干渉光検出手段7により検出された干渉光L5から試料の光断層画像を生成するとともに、蛍光検出手段8により検出された蛍光L4から試料Sの蛍光断層画像を生成する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

蛍光色素を有する試料の断層画像を取得する断層画像化装置であって、 前記蛍光色素を励起する低コヒーレンス光からなるレーザ光を射出する光源ユニットと、 該光源ユニットから射出されたレーザ光を測定光と参照光とに分光する光分割手段と、 該光分割手段により分光された前記参照光と、前記測定光が前記試料に照射されたときの該試料からの反射光との間に僅かな周波数差を与える周波数変調手段と、 該周波数変調手段により僅かな周波数差が与えられた前記反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、 該合波手段において前記反射光と前記参照光とが合波されたときの干渉光を検出する干渉光検出手段と、 前記測定光が前記試料に照射されたときに、該試料の前記蛍光色素が励起されることにより射出された蛍光を検出する蛍光検出手段と、 前記干渉光検出手段により検出された前記干渉光から前記試料の光断層画像を生成するとともに、前記蛍光検出手段により検出された蛍光から前記試料の蛍光断層画像を生成する画像生成手段と を有することを特徴とする断層画像化装置。

IPC (1件)：

G02B 21/00

FI (1件)：

G02B21/00

Fターム (6件)：

2H052AA04 ,  2H052AA09 ,  2H052AC34 ,  2H052AD20 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 走査型光学顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-322166   出願人：オリンパス株式会社
• 位相差顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-134054   出願人：オリンパス光学工業株式会社