特許

J-GLOBAL ID：200903069932955739

プリント配線基板検査用治具

発明者： 竹村 正三 ,  野口 輝秀
出願人/特許権者： 株式会社トクソー理研
代理人 (1件)： 伊藤 捷雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-225848
公開番号（公開出願番号）：特開2008-051563
出願日： 2006年08月22日
公開日（公表日）： 2008年03月06日
要約：

【課題】被検査基板の電極に対するプローブの接触不良を防止して正確に導通・絶縁検査を行うことができる検査用治具を提供する。【解決手段】プローブ13の先端部にフランジ状に拡径したプローブヘッド15を形成するとともに、プローブヘッド15を異方性導電部材で覆った。プローブヘッド15は、絶縁性の保持板11の表面11aに突起状に設けられるとともに、保持板11の表面11aに貼り付けられた異方性導電部材シート16内に埋設されている。プローブ13と電極31の相対位置が多少ずれても、異方性導電部材シート16のプローブヘッド15と電極31との間に挟まれた部分が圧縮され、この圧縮された部分の導電率が増加してプローブ13と電極31とが電気的に接続されるので、被検査基板30の電極31に対するプローブ13の接触不良による誤検出を防止できる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被検査基板上の電極にプローブの先端部を当接させて当該被検査基板に形成されている回路の導通・絶縁を検査するための検査用治具であって、 前記プローブの先端部を異方性導電部材で覆ったことを特徴とするプリント配線基板検査用治具。

IPC (3件)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/06 ,  H05K 3/00

FI (3件)：

G01R31/02 ,  G01R1/06 A ,  H05K3/00 T

Fターム (9件)：

2G011AB08 ,  2G011AC14 ,  2G011AD01 ,  2G011AE01 ,  2G011AF07 ,  2G014AA13 ,  2G014AA15 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 検査冶具および検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-123162   出願人：株式会社コーヨーテクノス