特許
J-GLOBAL ID：200903070180716649
光モジュールの評価方法および評価装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
布施 行夫
, 大渕 美千栄
, 伊奈 達也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-162232
公開番号（公開出願番号）：特開2007-333415
出願日： 2006年06月12日
公開日（公表日）： 2007年12月27日
要約：
【課題】本発明は、光モジュールの量産に適した評価技術を提供することを目的とする。【解決手段】発光素子と通信用光ファイバの一端を支持するための支持部材とを含む光モジュール200において、前記発光素子と、前記支持部材との相対位置を評価するための光モジュールの評価方法であって、評価用光ファイバの一端を前記支持部材に支持させるステップと、評価用光ファイバ中に、発光素子が出射した光を伝搬させるステップと、前記発光素子が出射した光の光軸を含む一部成分のみの光量を、前記評価用光ファイバの他端側に設けられた光検出器によって検出するステップと、を含む。【選択図】図18
請求項（抜粋）：
発光素子と通信用光ファイバの一端を支持するための支持部材とを含む光モジュールにおける前記発光素子と、前記支持部材との相対位置を評価するための光モジュールの評価方法であって、
(a)評価用光ファイバの一端を前記支持部材に支持させるステップと、
(b)評価用光ファイバ中に、発光素子が出射した光を伝搬させるステップと、
(c)前記発光素子が出射した光の光軸を含む一部成分のみの光量を、前記評価用光ファイバの他端側に設けられた光検出器によって検出するステップと、
を含む、光モジュールの評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M11/02 J
, G01M11/00 T
